一部の専門家は楕円偏光分光法を用いてエレクトロクロミック材料を製造するための三酸化タングステン薄膜を研究した。専門家によると、この方法は検出速度が速く、非接觸で、精度が高く、損傷がないなどの特徴があり、フィルム材料の光學(xué)分析において獨(dú)特の優(yōu)位性がある。
詳細(xì)については、次のサイトを參照してください。
http://www.tungsten-powder.com/japanese/tungsten-oxide.html
一部の専門家や學(xué)者は以前分光エリプソメトリーによってWO 3薄膜を研究したが、非晶質(zhì)三酸化タングステン薄膜だけを研究し、その光學(xué)定數(shù)の変化だけに注目しているという報(bào)告もある。つまり、結(jié)晶性三酸化タングステンの楕円偏光分光法の研究はまだ不足している。また、WO 3エレクトロクロミック過程において、非晶質(zhì)WO 3と晶質(zhì)WO 3との関係、及び光學(xué)定數(shù)とエレクトロクロミック機(jī)構(gòu)との関係は十分に研究されていない。そのため、これらの點(diǎn)が三酸化タングステンエレクトロクロミック膜の研究の重點(diǎn)となり、結(jié)晶三酸化タングステンをよりよく理解することができる。
