タングステン針の品質(zhì)は走査型電子顕微鏡（stm）の検出能力に直接関係している。タングステンチップのサイズ，形狀および化學(xué)的同定はstm像の分解能と形狀だけでなく，測(cè)定の電子狀態(tài)にも影響する。従って、タングステンチップの製造が特に重要である。そして、それは特定の曲率半徑でタングステンチップを得るほうがよい。
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http://www.tungsten-carbide.com.cn/Japanese/index.html
stm針の作製にはいくつかの伝統(tǒng)的方法がある。一般に、それらは機(jī)械的せん斷、電気化學(xué)エッチング、電子又はイオンビーム照射である。しかし，これらの方法はナノスケールで特定のチップサイズを持つstmプローブを制御できない。そこで，電界エッチング技術(shù)を用いた電界イオン顕微鏡プラットフォームでは，電界エッチング技術(shù)を用いて，特定の曲率半徑をもつナノタングステンチップを?qū)g時(shí)間で作製できる新しい方法を提案した。
